La microscopie électronique à transmission de nanoparticules (TEM) est une technique de microscopie importante largement utilisée pour observer et caractériser la structure et la morphologie des particules et des matériaux à l'échelle nanométrique.
TEM utilise des faisceaux d'électrons à haute énergie pour observer les détails microscopiques de l'échantillon à travers de fines tranches. En TEM, le faisceau d'électrons est focalisé à travers un système de lentilles puis traverse l'échantillon, interagissant avec les atomes ou les molécules de l'échantillon. En collectant des informations sur le faisceau d'électrons transmis, des images haute résolution et des diagrammes de diffraction de l'échantillon peuvent être obtenus, révélant ainsi sa structure et sa composition internes.
Voici les étapes générales d’utilisation de TEM pour tester des échantillons :
1. Préparation de l'échantillon : Tout d'abord, il est nécessaire de préparer l'échantillon à tester en tranches suffisamment fines. Les méthodes de préparation courantes comprennent le découpage mécanique, le broyage ionique, le dépôt centrifuge et la découpe par faisceau d'ions focalisé (FIB).
2. Chargement de l'échantillon : placez les tranches d'échantillon préparées sur le porte-échantillon TEM et assurez-vous de leur fixation et de leur stabilité.
3. Paramètres de l'instrument : définissez les paramètres tels que la tension d'accélération, la mise au point et les fonctions d'alignement requis pour le TEM. Habituellement, il est nécessaire de choisir les réglages et modes d’objectif appropriés pour obtenir les informations d’image requises.
4. Observation et réglage : Insérez le porte-échantillon dans l'instrument TEM et observez l'échantillon à l'aide d'un oculaire ou d'un microscope. Sous un grossissement approprié, observez si la morphologie et la structure de l’échantillon répondent aux exigences, puis ajustez et optimisez si nécessaire.
5. Capture d'image : sélectionnez les paramètres d'objectif et le temps d'exposition appropriés pour capturer des images haute résolution de l'échantillon via le système TEM. Des images de différentes régions et angles peuvent être collectées pour obtenir des informations plus complètes.
6. Analyse des données : analyser et interpréter les images TEM, notamment en mesurant la taille des particules, la morphologie de la surface, la structure cristalline, etc. Une analyse du spectre d'énergie et une analyse du diagramme de diffraction correspondantes peuvent également être effectuées pour obtenir des informations sur la composition élémentaire et la structure cristalline.
TEM est une technique de microscopie à haute résolution couramment utilisée pour étudier les nanoparticules, les nanomatériaux, les nanostructures, etc. Il peut fournir une observation et une analyse détaillées à l’échelle nanométrique, jouant un rôle important dans la compréhension des propriétés structurelles des matériaux, de la morphologie et de la composition des nanoparticules, ainsi que dans l’étude des phénomènes à l’échelle nanométrique.
