Les instruments de détection couramment utilisés pour analyser la composition denanomatériauxinclure:
1. ICP (Plasma à Couplage Inductif): L'ICP est une technologie largement utilisée dans les domaines de la chimie analytique et de la science des matériaux. Il peut être utilisé pour déterminer le contenu et la composition des éléments des nanomatériaux. En convertissant l'échantillon en ions gazeux et en utilisant le spectre plasma généré pour déterminer la concentration des éléments. L'ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) combine les techniques d'ICP et de spectrométrie de masse pour analyser des concentrations extrêmement faibles d'éléments dans les nanomatériaux.
2. XRF (fluoroscopie à rayons X) : XRF est une technologie largement utilisée pour l'analyse des matériaux et les tests non destructifs. Il détermine la composition des éléments en irradiant la surface ou l'intérieur de l'échantillon avec des rayons X et en mesurant le rayonnement de fluorescence des caractéristiques des éléments dans l'échantillon. XRF convient à une gamme de nanomatériaux, notamment des échantillons solides, liquides et en poudre.
3. EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) : L'EDS est une technique de microscopie électronique qui détermine la composition des éléments dans un échantillon en mesurant les rayons X générés par l'interaction entre le faisceau électronique et l'échantillon dans le matériau. L'EDS est souvent utilisé en conjonction avec la microscopie électronique à balayage (MEB) pour fournir une analyse de la composition de surface des nanomatériaux.
